eds能谱分析，EDX和EDS的区别

本文目录一览

1，EDX和EDS的区别
2，Na元素可以用EDS检测吗
3，EDS能分析表面的元素组成吗
4，什么是能谱分析仪
5，XRDIRSEMEDS及紫外可见吸收的测试原理及具体分析步骤
6，EDS分析求助

1，EDX和EDS的区别

　EDX是荧光分析.EDS是能谱分析.后者不是x射线能谱仪.如果想准确定量.可以考虑化学分析.XPS.或者俄歇分析(AES).XPS和AES对表面含量较为适合.

EDX和EDS的区别

2，Na元素可以用EDS检测吗

1、EDS是针对一些元素的含量进行测试，XRD是测试晶体结构的。 2、EDS (Energy Dispersive Spectrometer）能谱分析，能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。

或许可以。

Na元素可以用EDS检测吗

3，EDS能分析表面的元素组成吗

X射线能量分散谱仪（简称能谱仪或EDS）能谱仪可应用于微区成分分析和样品中元素的点分析、线分析、面分析。能谱仪与波谱仪类似，也有点分析、线分析、面分析三种分析方式，作用与波谱仪类似，但分析速度比波谱仪快的多，其缺点是其分辨率较波谱仪稍差，常有相邻谱峰的重叠现象，使元素分析发生困难。

EDS能分析表面的元素组成吗

4，什么是能谱分析仪

能谱分析仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)用来对材料微区成分元素种类与含量分析配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜使用各种元素具有自己X射线特征波长特征波长大小则取决于能级跃迁过程释放出特征能量△E能谱分析仪利用同元素X射线光子特征能量同特点来进行成分分析探头：般Si(Li)锂硅半导体探头探测面积：几平方毫米分辨率（MnKa）：～133eV 探测元素范围：Be4～U92

5，XRDIRSEMEDS及紫外可见吸收的测试原理及具体分析步骤

SEM：材料的表面形貌，形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息TEM：材料的表面形貌，结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成FTIR：主要用于测试高分子有机材料，确定不同高分子键的存在，确定材料的结构。如单键，双键等等Raman：通过测定转动能及和振动能及，用来测定材料的结构。CV：CV曲线可以测试得到很多信息，比如所需电沉积电压，电流，以及半导体行业可以得到直流偏压EIS：EIS就是电化学交流阻抗谱测试可以得到电极电位，阻抗信息，从而模拟出系统内在串联电阻，并联电阻和电容相关信息BET：主要是测试材料比表面积的，可以得到材料的比表面积信息。XRD：主要是测试材料的物性，晶型的。高级的XRD还可以测试材料不同晶型的组分。质谱：主要用于鉴定材料的化学成分，包括液相质谱，气象质谱

1、eds是针对一些元素的含量进行测试，xrd是测试晶体结构的。2、eds (energy dispersive spectrometer）能谱分析，能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的x射线的能量进行测量来确定物质化学成分。分析范围：4-100号元素定性定量分析。特点：（1）能快速、同时对各种试样的微区内be-u的所有元素，元素定性、定量分析，几分钟即可完成。（2）对试样与探测器的几何位置要求低：对w.d的要求不是很严格；可以在低倍率下获得x射线扫描、面分布结果。（3）能谱所需探针电流小：对电子束照射后易损伤的试样，例如生物试样、快离子导体试样、玻璃等损伤小。（4）检测限一般为0.1%－0.5%，中等原子序数的无重叠峰主元素的定量相误差约为2%。3、xrd，x射线衍射是测定晶体结构的。x射线衍射，通过对材料进行x射线衍射，分析其衍射图谱，分析材料的成分等。

6，EDS分析求助

1. 可以。无论是SEM还是TEM均可，只是多数情况下，EDS采用无标样定量，定量分析结果是半定量的，不能作为决断性证据，而只能做其他表征手段的support information。分析方法很简单，EDS能谱都有直接定量分析的功能，为了准确，你可以多点分析（大于20个点），取平均值。2. 一个点的分析区域对于通常的SEM区域是以电子束束斑为大小的圆斑，往下是一个梨形扩展区，通常会有几个立方微米的空间，但如果只是一个单分散的纳米颗粒，下面没有其他干扰，分析区域可以准确到电子束斑大小。对于TEM，则和后面的那种情况相同。顺便说一下：在EDS采集样品信息时，一般建议用取点分析，而不是取框，因为如果不做设定，通常一个点的分析时间和一个框的总分析时间相同，那么一个框的分析时间平均到每个区域点，会使采样时间极其短暂，从而影响定量结果的准确性（信号量不足会影响少量元素组分的定量）。

EDS定量很不准嗯，尤其是sem的eds样品台上东西太多了，都不知道是一次信号还是碰到其他元素又产生二次信号，TEM会好点，不过一般也没拿这个当含量说事的。。另外xps貌似定量也不咋准，做过一个明明二价铜多，打出来居然信号一样

EDS是定性的分析，其结果只能作为参考，取面分析相对来说更好一点，但是也不可以作为定量分析。至于取点测试时候的面积，这个不是太好确定，由设备觉得，也就是设备的电子束直径