AFM，AFm 是什么意思

1，AFm 是什么意思

原子力显微镜（ AFM ）的原理是利用针尖与样品表面原子间的微弱作用力来作为反馈信号，维持针尖——样品间作用力恒定，同时针尖在样品表面扫描，从而得知样品表面的高低起伏。

AFm 是什么意思

2，尺寸的AFM测量是什么意思

AFM是Atomic Force Microscope的缩写，即原子力显微镜。AFM利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体，也可以观察非导体，从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研究中心的格尔德·宾宁于一九八五年所发明的，其目的是为了使非导体也可以采用类似扫描探针显微镜（SPM）的观测方法。原子力显微镜（AFM）与扫描隧道显微镜（STM）最大的差别在于并非利用电子隧穿效应，而是检测原子之间的接触，原子键合，范德瓦耳斯力或卡西米尔效应等来呈现样品的表面特性。关于详细的AFM测量原理及其优缺点，请题主参考百度百科及其它网络资源。

尺寸的AFM测量是什么意思

3，AFM是什么材料

反铁磁性(AFM)材料

afm34是芳纶纤维。芳纶纤维一般指芳纶。芳纶(nomex是芳纶一种，是间对苯二甲酰间苯二胺)，是一种新型高科技合成纤维，具有超高强度、高模量和耐高温、耐酸耐碱、重量轻、绝缘、抗老化、生命周期长等优良性能，广泛应用于复合材料、防弹制品、建材、特种防护服装、电子设备等领域。芳纶全称为"聚对苯二甲酰对苯二胺",英文为aramid fiber，是一种新型高科技合成纤维，具有超高强度、高模量和耐高温、耐酸耐碱、重量轻等优良性能,其强度是钢丝的 5～6倍，模量为钢丝或玻璃纤维的2～3倍，韧性是钢丝的2倍，而重量仅为钢丝的1/5左右，在560度的温度下，不分解，不融化。它具有良好的绝缘性和抗老化性能，具有很长的生命周期。芳纶的发现，被认为是材料界一个非常重要的历史进程。

AFM是什么材料

4，AFM什么意思

Air Force Manual 〈美〉《空军手册》 1. 高级调频 A-fader 音频衰减...AFM adance frequency modulation 高级调频...AFS acoustic feedback speaker 声反馈扬声器 2. 原子力显微镜 AFI Atrial Filling Index 心房充盈指数...AFM Atomic Force Microscope 原子力显微镜...AFP Adiabatic Fast Passage 绝热快速通道 3. 耐摩金属 afloat浮...AFM耐摩金属...AFMag method声频磁法 4. 利用原子力显微镜报道了以聚酰亚胺(polyimide)作为绝缘层,并五苯作为活动层的一种全有机场效应晶体管。利用原子力显微镜(AFM)分析了聚酰亚胺薄膜及其表面并五苯薄膜的形貌;采用顶电极接触结构,测量出其场效应晶体管的输出特性曲线,并得出其场效应迁移率为0.079m2/(V.s),开关电流比约为104。

5，什么是AFM

明。AFM 是一種類似於STM 的顯微技術，它的許多元件和STM是共同的，如用於三維掃描的電壓陶瓷系統以及反饋控制器等。它和STM 最大的不同是用一個對微弱作用力極其敏感的微懸臂針尖代替了STM 的隧道針尖，並以探測原子間的微小作用力(Vander Walls Force)代替了STM 的微小穿遂電流。因為這樣所以AFM 不在像STM 侷限於樣品必須為導體才行，AFM 適用於導體和非導體，它的應用範圍比STM 廣泛的多，因此AFM 為目前最被廣泛應用在工業界的掃描探針式顯微術。但值得注意的是AFM 的解析度並沒有STM 來的好！AFM的探針,一般是利用半導體工業的平面製程方法一體成行的。為了使探針有原子級的解析度，探針乃呈角錐形，使頂端只具有一顆或數顆穩定原子；為使探針具高靈敏的原子力感應度，角錐形探針底部乃連結於一槓桿之前緣，此槓桿彎曲程度將反映出原子力的大小。為測量彎曲度的大小，常用的方法是打一雷射光於懸臂上，而反射回來的雷射光則利用一能區分光點位置的感光二極體來接收，如此便能得到懸臂受原子力彎曲的程度，進而得到原子力圖像(見圖十一)。圖十一. 為AFM 的針尖探測示意圖。AFM工艺由美国与萨诸塞州Dynetics公司开发的Dynaflow磨料流加工工艺(AFM)是一种强迫含磨料的介质在工件表面或孔中往复运动的金属精加工工艺, 它具有广泛的应用前景。年前, AFM当最先出现时, 它主要用于清除金属件中难于到达的内通道及相交部位的毛刺。它特别适用于加工难加工合金材料制成的结构复杂的航空元件。近年来, 它已被用于精加工流体动力元件中表面粗糙度要求达0.127μm的不能接近的内表面。AFM的基本原理：介质速度最大时, 磨光的能力也最大。这里, 夹具的结构起着重要作用, 它决定着介质速度在何处最大。夹具用于使工件定位和建立介质流动轨迹, 是精加工所选择部位而不触及相邻部位的关键所在。AFM的分类﹕(1) 接触式﹕利用探针和待测物表面之原子力交互作用(一定要接触)，此作用力(原子间的排斥力)很小，但由于接触面积很小，因此过大的作用力仍会损坏样品，尤其对软性材质，不过较大的作用力可得较佳分辨率，所以选择较适当的作用力便十分的重要。由于排斥力对距离非常敏感，所以较易得到原子分辨率。(2) 非接触式﹕为了解决接触式之AFM 可能破坏样品的缺点，便有非接触式之AFM 被发展出来，这是利用原子间的长距离吸引力来运作，由于探针和样品没有接触，因此样品没有被破坏的问题，不过此力对距离的变化非常小，所以必须使用调变技术来增加讯号对噪声比。在空气中由于样品表面水模的影响，其分辨率一般只有50nm，而在超高真空中可得原子分辨率。(3) 轻敲式﹕将非接触式AFM 改良，将探针和样品表面距离拉近，增大振福，使探针再振荡至波谷时接触样品由于样品的表面高低起伏，使的振幅改变，再利用接触式的回馈控制方式，便能取得高度影像。分辨率界于接触式和非接触式之间，破坏样品之机率大为降低，且不受横向力的干扰。不过对很硬的样品而言，针尖仍可能受损。

原子力显微镜（afm）的原理是利用针尖与样品表面原子间的微弱作用力来作为反馈信号，维持针尖——样品间作用力恒定，同时针尖在样品表面扫描，从而得知样品表面的高低起伏。

6，AFM的介绍

AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是继扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope）之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵；现已广泛应用于半导体、纳米功能材料、生物、化工、食品、医药研究和科研院所各种纳米相关学科的研究实验等领域中，成为纳米科学研究的基本工具。

原子力显微镜(atomic force microscope, afm)是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。1981年，stm（scanning tunneling microscopy, 扫描隧道显微镜）由ibm-zurich 的binnig and rohrer 发明。1982年，binnig首次观察到原子分辨图si(7x7)。1985年，binnig, gerber和quate开发成功了首台afm（atomic force microscope, 原子力显微镜）。在表面科学、纳米技术领域、生物电子等领域， spm（scanning probe microscopy）逐渐发展成为重要的、多功能材的材料表征工具。stm 要求样品表面导电，而afm可以测试绝缘体的表面形貌和性能。因为stm的基本原理是通过测量探针与样品表面的隧道电流大小来探测表面形貌，而afm是测量探针与样品表面的相互作用力。afm由四个部分组成：机械运动部分、悬臂偏转信号光学检测系统、控制信号反馈系统，成像和信息处理软件系统。探针与样品之间的相互作用力使微悬臂向上或向下偏转，利用激光将光照射在悬臂的末端，反射光的位置改变就用来测器此悬臂的偏移量，这种检测方法最先由meyer 和amer提出。机械部分的运动（探针上、下以及横向扫描运动）是有精密的压电陶瓷控制。激光反射探测采用psd。反馈和成像系统控制探针和样品表面间距以及最后处理实验测试结果。原子力显微镜afm操作模式随着afm技术的发展，各种新应用不断涌现。具体包括如下技术:(1) 接触模式 (contact mode) 最早的模式，探针和样品直接接触，探针容易磨损，因此要求探针较软，即悬臂的弹性系数小，一般小于1n/m。(2) 轻敲模式（tapping mode）也叫dynamic force或者intermittant-contact。探针在外力驱动下共振，探针部分振动位置进入力曲线的排斥区，因此探针间隙性的接触样品表面。探针要求很高的悬臂弹性系数来避免与样品表面的微层水膜咬死。tapping mode对样品作用力小，对软样品特别有利于提高分辨率。同时探针的寿命也较contact mode的稍长。以上是最常用的afm模式，别的模式还有很多：如lateral force microscopy（横向力显微镜，检测样品表面微区对探针横向的摩擦力，可以获得材料的力学性能），noncontact mode force（非接触模式显微镜，与tapping mode基本相同，区别是非接触模式探针工作在力曲线的吸引区），force modulation （力调制显微镜，探针对检测样品表面微区有很大的力，可以获得材料微区的弹性系数等力学性能），cfm chemical force microscopyefm electric force microscopykfm kelvin force microscopymfm magnetic force microscopysthm scanning thermal microscopyscm scanning capacitance microscopescpm scanning chemical potential microscopesecm scanning electrochemical microscopesicm scanning ion conductance microscopeskpm scanning kelvin probe microscopesthm scanning thermal microscopestos scanning tunneling optical spectrometer各种模式和应用要求性能各异的探针，而探针的性能指标是决定显微镜分辨率的最关键的因素。二. afm探针分类及各探针优缺点afm探针基本都是由mems技术加工 si 或者 si3n4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜，如afm（范德法力），静电力显微镜efm（静电力）磁力显微镜mfm（静磁力）侧向力显微镜lfm（探针侧向偏转力）等，因此有对应不同种类显微镜的相应探针。原子力显微镜的探针主要有以下几种：（1）、非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针：最常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。（2）、导电探针：通过对普通探针镀10-50纳米厚的pt（以及别的提高镀层结合力的金属，如cr，ti，pt和ir等）得到。导电探针应用于efm，kfm，scm等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。（3）、磁性探针：应用于mfm，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀co、fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。（4）、大长径比探针：大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点：不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数：针尖高度> 9μm；长径比5:1；针尖半径< 10 nm。（5）、类金刚石碳afm探针/全金刚石探针：一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备（价格很高）。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。还有生物探针（分子功能化），力调制探针，压痕仪探针