基体效应，为什么化合物分子量过小需要衍生化才可以被液质检测到

来源：整理时间：2023-08-22 10:01:11 编辑：智能门户手机版

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1，为什么化合物分子量过小需要衍生化才可以被液质检测到
2，荧光压片法为什么会出现颗粒效应和基体效应
3，什么是基体效应
4，什么是基体效应原子吸收光谱法测定钙镁主要有哪些物质产生基体效
5，基体效应的简单介绍
6，什么是标准物质工业分析中常用的标准物质指哪些当基体效应显

1，为什么化合物分子量过小需要衍生化才可以被液质检测到

何液质联用提高化合物响应值1基体效应源LC-MS基质效应现象初1993发现改变品基质种类浓度待测物电喷雾化质谱响应值降低

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为什么化合物分子量过小需要衍生化才可以被液质检测到

2，荧光压片法为什么会出现颗粒效应和基体效应

可以消除基体干扰,但是光谱干扰和背景干扰不能消除,所以这种方法并不很好,尤其是干扰很大时

加少量氢化钙并搅拌半小时除水。再加分馏柱常压分馏（不要减压分馏！），收集189℃稳定沸点的馏分。大约收集约70%的馏分就可以了（不希望不纯吧？那就别多收）。注意前面去掉约15%的馏分不要，后面留15%的底子不要蒸出来。试试，应该可以的。

荧光压片法为什么会出现颗粒效应和基体效应

3，什么是基体效应

在进行x射线荧光法测量时，若被测对象是非单一成分时，例如有A、B两种成分，当A元素的特征x射线能量高于B元素的吸收限(或相反)时，则A元素的特征X射线也可以激发B元素，于是产生两种影响：①使B元素的x射线照射量率比实际的增多——增强效应；②A元素的特征x荧光照射量率削弱——吸收效应。这两组效应是由物质组分决定的，因此叫做基体效应。由于基体效应的影响，破坏了x射线荧光照射量率与含量问的线性关系，为此对非单一组分的测量对象必须考虑基体效应问题。质谱学上的基体效应即非质谱干扰，一般分为两类：①高盐溶液引起的物理效应；②基体对分析物的抑制或增强效应。ICP-MS分析时，一定要考虑基体效应及其校正。

中文名称：基体效应英文名称：matrix effect 定义：二次离子质谱法中，待分析离子信号受基体成分的影响。应用学科：机械工程（一级学科）；分析仪器（二级学科）；质谱仪器-质谱仪器一般名词（三级学科） http://baike.baidu.com/view/2721532.html?wtp=tt

什么是基体效应

4，什么是基体效应原子吸收光谱法测定钙镁主要有哪些物质产生基体效

飞秒检测发现基体效应是指实际工作中被测量的样品，往往其成份是由多种元素组成，除待测元素以外的元素统称为基体。由于被测量的样品中，其基体成份是变化的（这个变化一是指元素的变化，二是指含量的变化），它直接影响待测元素的测定。基体效应是个无法避免的客观事实。钙镁常常受到其它碱金属的电离干扰。待测元素与其它组分之间的化学作用引起的干扰效应即为化学干扰。例如，待测元素与一些物质形成高熔点、难挥发、难离解的化合物，导致吸光度下降，甚至使测定不能进行。化学干扰主要来自阳离子和阴离子干扰。阳离子往往在一定温度下，生成难熔混晶体或形成难原子化的化合物（或氧化物）。如：Ti、Al、Si与Ca可能生成CaSiO3、CaTiO3、CaAlO3 等难熔融混晶体。B、Be、Cr、Fe、Mo、V、W和部分分稀土元素易与待测元素形成不易挥发的混合氧化物，使吸收值降低，产生负干扰。有些元素会产生增感效应现象，例如Mn、Fe、Co、 Ni对Al、Cr有正干扰。阴离子的干扰比阳离子复杂得多，往往与待测元素生成难离解高熔点化合物，例如：磷酸根PO43—，SO42—与Ba生成Ba3(PO4)2, BaSO4。对被测元素干扰顺序如下：P〇43—>scv- >cr >no3 - >cio3 - o阴阳离子的干扰，很大程度上与火焰的性质和温度有关，干扰的消除可利用温度效应。

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5，基体效应的简单介绍

为了叙述方便，假设样品中存在待测元素A，相邻元素B、C和轻元素。B元素的原子序数比A元素的原子序数大一些，B元素能被放射源放出的射线所激发产生B元素的特征X射线BK,BKX射线又能激发A元素；C元素的原子序数小于待测元素A的原子序数，且能被A元素特征X射线所激发产生C元素特征X射线；轻元素的原子序数测距A、B、C元素的原子序数较远，被激发的几率很小，可以忽略不计，那么对待测元素A特征X射线强度的影响有以下几个方面：1) 放射源放出的射线激发待测元素A，产生特征X射线AK线称为光电效应。2) AKX线在出射样品时遇到C元素激发了C元素特征X射线CK而A元素特征X射线强度减小了，称为吸收效应。3) 放射源激发了B元素，BKX线又激发了A元素，使A元素特征X射线计数增加，称为增强效应，又称为二次荧光。4) 放射源激发了元素C和元素B，使得激发元素A几率减小。5) 放射源放出的射线与轻元素相互作用发生康普顿效应，可能发生一次康普顿效应也可能发生多次康普顿效应，发生康普顿效率之后射线能量损失一部分在出射样品路程中可能会激发元素A、B、C，也可能不发生作用，称为康普顿效应。以上只是描绘了一个简单的图象，实际上X射线的吸收、增强、散射过程要复杂得多。若待测元素与标准的基体成份不一致，必然会使分析结果出现较大误差。这就是吸收效应、增强效应、散射效应影响，统称为基体效应。质谱学上的基体效应即非质谱干扰，一般分为两类：①高盐溶液引起的物理效应；②基体对分析物的抑制或增强效应。ICP-MS分析时，一定要考虑基体效应及其校正。

6，什么是标准物质工业分析中常用的标准物质指哪些当基体效应显

标准物质是指在组成和性质上与待测样品相似，含量已知，并且均匀稳定的物质。当基体效应显著时，必须设法避免，解决基体效应的最好办法是采用标准物质作分析测试的标准。

飞秒检测发现基体效应是指实际工作中被测量的样品，往往其成份是由多种元素组成，除待测元素以外的元素统称为基体。由于被测量的样品中，其基体成份是变化的（这个变化一是指元素的变化，二是指含量的变化），它直接影响待测元素的测定。基体效应是个无法避免的客观事实。钙镁常常受到其它碱金属的电离干扰。待测元素与其它组分之间的化学作用引起的干扰效应即为化学干扰。例如，待测元素与一些物质形成高熔点、难挥发、难离解的化合物，导致吸光度下降，甚至使测定不能进行。化学干扰主要来自阳离子和阴离子干扰。阳离子往往在一定温度下，生成难熔混晶体或形成难原子化的化合物（或氧化物）。如：ti、al、si与ca可能生成casio3、catio3、caalo3 等难熔融混晶体。b、be、cr、fe、mo、v、w和部分分稀土元素易与待测元素形成不易挥发的混合氧化物，使吸收值降低，产生负干扰。有些元素会产生增感效应现象，例如mn、fe、co、 ni对al、cr有正干扰。阴离子的干扰比阳离子复杂得多，往往与待测元素生成难离解高熔点化合物，例如：磷酸根po43—，so42—与ba生成ba3(po4)2, baso4。对被测元素干扰顺序如下：p〇43—>scv- >cr >no3 - >cio3 - o阴阳离子的干扰，很大程度上与火焰的性质和温度有关，干扰的消除可利用温度效应。